Badanie z użyciem XPS (roentgenowskiej spektroskopii fotoelektronowej) usuwania jonów z wody za pomocą zeolitów i bentonitów

  • Anna ŠKVARLOVÁ Technical University of Košice, Faculty of Mining, Ecology, Process Control and Geotechnology, Letná 9, 042 00 Košice, Slovakia
  • Mária KAŇUCHOVÁ Technical University of Košice, Faculty of Mining, Ecology, Process Control and Geotechnology, Letná 9, 042 00 Košice, Slovakia
  • Ľubica KOZÁKOVÁ Technical University of Košice, Faculty of Mining, Ecology, Process Control and Geotechnology, Letná 9, 042 00 Košice, Slovakia
  • Tomáš BAKALÁR Technical University of Košice, Faculty of Mining, Ecology, Process Control and Geotechnology, Letná 9, 042 00 Košice, Slovakia
  • Andrea ORAVCOVÁ Technical University of Košice, Faculty of Mining, Ecology, Process Control and Geotechnology, Letná 9, 042 00 Košice, Slovakia
  • Jiří ŠKVARLA Technical University of Košice, Faculty of Mining, Ecology, Process Control and Geotechnology, Letná 9, 042 00 Košice, Slovakia
Słowa kluczowe: XPS, bentonit, zeolit, żelazo, adsorpcja XPS

Abstrakt

Zeolity należą do rodziny uwodnionych minerałów glinowokrzemianowych, zawierających metale alkaliczne oraz alkaliczno-ziemne.
Są zauważane ze względu na ich zdolność wymiany jonowej oraz odwrotnej dehydratacji. Ich struktura zawiera wewnętrznie połączone
wgłębienia zajęte przez duże kationy metali oraz cząsteczki wody. Bentonity to iły tworzone często poprzez alterację popiołu wulkanicznego, zawierające głównie minerały smektytu a zazwyczaj montmorillonitu. Wykazują silne właściwości koloidalne a ich objętość
wzrasta kilkukrotnie podczas wejścia w kontakt z wodą, tworząc w ten sposób galaretowatą i lepką ciecz. Specjalne właściwości bentonitu
(hydratacja, puchnięcie, absorpcja wody, lepkość, tiksotropia) powodują, że jest to cenny materiał dla szerokiej gamy zastosowań. Celem
tego artykułu jest udokumentowanie zdolności zeolitów oraz bentonitów do usuwania jonów żelaza oraz różnych innych zanieczyszczeń
z wody. Analiza powierzchni zeolitu i bentonitu została wykonana za pomocą bardzo czułego urządzenia analitycznego – XPS (roentgenowska spektroskopia fotoelektronowa)

Opublikowane
2020-12-31